IP防護等級試驗探針/探棒是坐標測量機的一部分，主要用來觸測工件表面工件表面，使得測頭的機械裝置移位，產(chǎn)生信號觸發(fā)并采集一個測量數(shù)據(jù)測量數(shù)據(jù)。一般試驗探針生產(chǎn)探針都是由一個桿和寶石球組成。通過需要測量的特征，您可以判斷應當使用探針的類型和尺寸。在測量過程中，要求探針的剛性和測尖的形狀都達到盡可能*佳的程度。 

    IP防護等級試驗探針/探棒幾個主要的術語：A：測針直徑；B：總長；C：桿直徑有效工作長度。

    總長：指的是從探針后固定面到測尖中心的長度有效工作長度。

    (EWL)：指的是從測尖中心到與一般測量特征發(fā)生障礙的探針點的距離選擇探針的原則：
    為保證一定的測量精度，在對探針的使用上，探針長度盡可能短：探針彎曲或偏斜越大，精度將越低。因此在測量時，盡可能采用短探針。
    連接點*少：每次將探針與加長桿連接在一起時，您就額外引入了新的潛在彎曲和變形點。因此在應用過程中，盡可能減少連接的數(shù)目。