IP防護等級試驗探針/探棒是坐標測量機的一部分，主要用來觸測工件表面工件表面，使得測頭的機械裝置移位，產生信號觸發并采集一個測量數據測量數據。一般試驗探針生產探針都是由一個桿和寶石球組成。通過需要測量的特征，您可以判斷應當使用探針的類型和尺寸。在測量過程中，要求探針的剛性和測尖的形狀都達到盡可能*佳的程度。 

    IP防護等級試驗探針/探棒幾個主要的術語：A：測針直徑；B：總長；C：桿直徑有效工作長度。

    總長：指的是從探針后固定面到測尖中心的長度有效工作長度。

(EWL)：指的是從測尖中心到與一般測量特征發生障礙的探針點的距離選擇探針的原則：

    為保證一定的測量精度，在對探針的使用上，探針長度盡可能短：探針彎曲或偏斜越大，精度將越低。因此在測量時，盡可能采用短探針。

    連接點*少：每次將探針與加長桿連接在一起時，您就額外引入了新的潛在彎曲和變形點。因此在應用過程中，盡可能減少連接的數目。